Кичак ВМ, Михалевський ДВ. МЕТОД ВІДНОСНОГО ПРОГНОЗУВАННЯ НАДІЙНОСТІ ВИРОБІВ ЕЛЕКТРОННОЇ ТЕХНІКИ ЗА РІВНЕМ НЧ ШУМУ. Вісник ВПІ [інтернет]. 12, Листопад 2010 [цит. за 06, Квітень 2026];(5):141-6. доступний у: http://visnyk.betakivc.vntu.vn.ua/index.php/visnyk/article/view/1785