Кичак, В. М. і Михалевський, Д. В. (2010) «МЕТОД ВІДНОСНОГО ПРОГНОЗУВАННЯ НАДІЙНОСТІ ВИРОБІВ ЕЛЕКТРОННОЇ ТЕХНІКИ ЗА РІВНЕМ НЧ ШУМУ», Вісник Вінницького політехнічного інституту, (5), с. 141–146. доступний у: http://visnyk.betakivc.vntu.vn.ua/index.php/visnyk/article/view/1785 (дата звернення: 6Квітень2026).