Кичак, В. М., і Д. В. Михалевський. 2010. «МЕТОД ВІДНОСНОГО ПРОГНОЗУВАННЯ НАДІЙНОСТІ ВИРОБІВ ЕЛЕКТРОННОЇ ТЕХНІКИ ЗА РІВНЕМ НЧ ШУМУ». Вісник Вінницького політехнічного інституту, вип. 5 (Листопад):141-46. http://visnyk.betakivc.vntu.vn.ua/index.php/visnyk/article/view/1785.