Субпікселне сканування елементів зображення на основі зсуву фотоматриці - Білинський, Й. Й.; Тарасюк, О. Г.; Білинський, В. Й. (Вісник Вінницького політехнічного інституту, 2010)
Запропоновано метод визначення максимуму розподілення яскравості світлової плями із субпікселною точністю на основі зсуву багатоелементного фотоприймального пристрою. Проведено експериментальні дослідження, що підтверджують ефективність методу, а також дана порівняльна характеристика запропонованого та існуючих методів.