Математична модель процесу пошкодження (електричного пробою) епоксидних вводів вимикачів ЛЕП 750 кВ - Собчук, В. С.; Собчук, Н. В.; Кондаков, Ю. В. (Вісник Вінницького політехнічного інституту, 2010)
Розглянуто та досліджено процес електричного пробою епоксидних вводів. Розроблено математичну модель процесу їх пошкодження. Виявлено, що канали електричного пробою в епоксидних вводах ВВБ 750 кВ є наслідком порушення конструктивної координації ізоляції і кумулятивного ефекту від серії грозових імпульсів від блукаючих хвиль.